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• 1，對于不知名的礦物地質(zhì)學家一般通過什么用顯微鏡觀察什么等方法進行
• 2，透明礦物在偏光顯微鏡下的描述舉例
• 3，顯微鏡可以直接觀察礦石表面嗎
• 4，實驗一 偏光顯微鏡使用單偏光鏡下觀察礦物的解理多色性2學時
• 5，礦石鑒定觀察分析用什么顯微鏡
• 6，偏光顯微鏡能觀察的結(jié)晶有哪些
• 7，如何利用小刀莫氏硬度計放大鏡鹽酸等和偏光顯微鏡來有效地鑒
• 8，正交偏光鏡下可觀察和測定透明礦物的哪些光學性質(zhì)
• 9，礦物顯微鏡一般是偏振光顯微鏡它的原理是什么

1，對于不知名的礦物地質(zhì)學家一般通過什么用顯微鏡觀察什么等方法進行

先可以通過，硬度，顏色，光澤/條痕，比重，解理，晶形等進行初步判斷，把礦物標本磨片再在正交偏光顯微鏡下觀察消光性，磨光片觀察反光可以確定不透明礦物

實驗，研究。請采納

2，透明礦物在偏光顯微鏡下的描述舉例

薄片號×××磷灰石　無色，呈六方柱狀，橫斷面呈正六邊形，標準的正中突起，解理一般見不到，有時在柱切面上見一組不完全解理，干涉色為Ⅰ級灰，柱狀切面，平行消光，橫斷面全消光，負延性，一軸晶，負光性。薄片號×××普通輝石　無色，短柱狀，橫斷面呈八邊形，柱面一組完全解理，橫斷面可見兩組近于正交的解理，高正突起，最高干涉色Ⅱ級綠，斜消光，消光角Ng∧c=40°，可見簡單雙晶，二軸晶，正光性。薄片號×××普通角閃石 綠色，長柱狀，橫斷面近六邊形，柱面一組完全解理，橫斷面具兩組解理，夾角56°（或124°），多色性和吸收性明顯，Ng—綠色，Nm—黃色，Np—淡黃色，吸收公式Ng>Nm>Np。高正突起，最高干涉色Ⅱ級黃，縱切面以斜消光為主，消光角Ng∧c=18°，可見簡單雙晶，二軸晶，負光性。薄片號×××黑云母　棕色，片狀，一組極完全解理，多色性明顯，深棕色—淺棕色，明顯正吸收，平行消光，干涉色達Ⅱ級頂部，正延性，二軸晶，負光性。學習指導(dǎo)偏光顯微鏡下透明礦物的系統(tǒng)鑒定的重點是：非均質(zhì)體礦物的鑒定，要按透明礦物的系統(tǒng)鑒定程序進行，先從單偏光鏡下觀察，再進行正交偏光下的觀察，最后進行錐光鏡下的觀察。透明礦物顯微鏡下的觀察和鑒定內(nèi)容，在實際鑒定過程中，不一定要完全按其順序進行，有時也可以交叉進行，也不一定全部項目都觀察，應(yīng)根據(jù)礦物主要光性鑒定特征進行觀察，甚至抓住其中幾項就可以確定礦物名稱。復(fù)習思考題1.偏光顯微鏡下鑒定透明礦物要遵循哪些程序？2.為什么在測定礦物的光學性質(zhì)時，大多需在定向切片上測定？3.垂直光軸切片、平行光軸（一軸晶）、平行光軸面（二軸晶）切片各有何特征？

3，顯微鏡可以直接觀察礦石表面嗎

透反射偏光顯微鏡就可以

不可以，顯微鏡的原理是光透過物體在顯微鏡形成影像，所以通常要制作裝片、涂片之類的，之間觀察礦物表面時，因為沒有光穿過形成影像，所以你只會看到黑乎乎一片。

4，實驗一 偏光顯微鏡使用單偏光鏡下觀察礦物的解理多色性2學時

一、基本要求1.了解偏光顯微鏡的一般構(gòu)造及裝置，學會偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和校正方法。2.認識礦物薄片上的解理等級，了解同一礦物不同方向切面的解理表現(xiàn)特征，學會解理夾角的測定方法。3.認識非均質(zhì)礦物的多色性現(xiàn)象，了解多色性的成因及與礦物切面方向的關(guān)系。二、實驗內(nèi)容和方法1.偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和校正（1）對光和準焦對光：裝上中倍物鏡（10×），打開鎖光圈，推出上偏光鏡和勃氏鏡，打開光源開關(guān)。老式的偏光顯微鏡則應(yīng)轉(zhuǎn)動反光鏡對準光源，直至整個視域明亮。準焦（調(diào)節(jié)焦距）：為了避免物鏡壓碎玻璃，一定將薄片蓋玻片朝上置于載物臺上，從側(cè)面觀察，轉(zhuǎn)動粗動螺旋，下降鏡筒或上升載物臺，使物鏡前端與薄片靠近，然后再從目鏡中觀察，轉(zhuǎn)動粗動螺旋，使鏡筒上升或載物臺下降，觀察視域內(nèi)物像基本清晰，再轉(zhuǎn)動微動螺旋直至物像完全清晰。（2）偏光顯微鏡下偏光振動方向的確定在薄片中找一個具極完全解理的黑云母置于視域中心，轉(zhuǎn)動載物臺使黑云母顏色變得最深為止。此時，黑云母解理縫的方向即代表下偏光鏡的振動方向（PP）（因已知光波沿黑云母解理縫方向振動時，吸收最強）。（3）視域直徑及工作距離的測定視域直徑可用透明方格紙、帶刻度的三角尺或物臺微尺進行測量。在測量時可將它們分別置于載物臺上，準焦后將刻度邊部與視域直徑邊部重合，觀察視域直徑長度值，記錄其數(shù)值，作為以后估計顆粒的大小之用。工作距離是指物像準焦后，物鏡前端與薄片平面之間的距離。它可用直角三角板放在物臺上進行測量。工作距離的長短與物鏡的放大倍數(shù)有關(guān)，一般物鏡放大倍數(shù)越小，工作距離越長，物鏡的放大倍數(shù)越大，工作距離越短。（4）物鏡中心較正在偏光顯微鏡的光學系統(tǒng)中，載物臺的旋轉(zhuǎn)軸、物鏡中軸及目鏡中軸應(yīng)當嚴格在一條直線上。此時，轉(zhuǎn)動載物臺，視域中心的物像不會離開中心，其余物像則繞視域中心作圓周運動。如果三個軸不在一條直線上，當轉(zhuǎn)動載物臺時，視域中心的物像將離開原來的位置，連同其他部分的物像繞另一中心旋轉(zhuǎn)，這時必須校正物鏡中軸，用安裝在物鏡上或物鏡旋轉(zhuǎn)盤上的兩個校正螺絲進行校正。（5）使用偏光顯微鏡注意事項偏光顯微鏡是一種貴重精密的光學儀器，因此，在使用時應(yīng)特別小心，注意愛護，并應(yīng)自覺遵守以下原則：①使用前應(yīng)進行檢查，儀器有無損壞，附件是否齊全，使用后，應(yīng)用專用鏡頭紙擦拭，切勿用手或其他物品觸摸。②薄片置于載物臺上時，薄片蓋玻片必須向上。③使用高倍物鏡時，下降鏡筒或提升物臺，應(yīng)從外側(cè)看著使物鏡下降至距薄片2 mm左右，轉(zhuǎn)微動螺旋提升鏡筒，以免造成薄片壓碎、物鏡損壞的嚴重后果。④使用完后，要關(guān)好電源，然后將上偏光鏡、勃氏鏡推人，罩上鏡罩，防止灰塵進入。2.觀察黑云母的多色性現(xiàn)象和極完全解理特征（1）長方形的切面：總可以看到一組細、密、長，且貫通性好的解理縫，為極完全解理。旋轉(zhuǎn)載物臺，這種切面多色性極明顯，最深時為深褐色，最淺時為淺黃色（注意顏色最深、最淺時解理縫與十字絲方向的關(guān)系）。（2）近等軸形或假六邊形的切面：一般看不到解理縫。旋轉(zhuǎn)載物臺，這種切面的顏色幾乎無變化或變化很不明顯，即多色性現(xiàn)象幾乎表現(xiàn)不出來或很微弱。3.觀察角閃石的多色性現(xiàn)象和完全解理特征（1）長短不等的條形切面（①切面）：可見到一組稀疏不等、基本連續(xù)的解理縫，為完全解理。旋轉(zhuǎn)載物臺，這種切面多色性明顯，最深時為深綠色，最淺時為淺黃綠色（注意顏色最深淺時解理縫與十字絲方向的關(guān)系，并繪出素描圖）。（2）近六邊形的切面（②切面）：可以見到兩組解理縫，兩組解理縫的銳夾角約為56°。旋轉(zhuǎn)載物臺，這種切面也表現(xiàn)出較明顯的多色性，但比①切面多色性要弱（注意顏色最深、最淺時兩組解理縫與十字絲方向的關(guān)系）。（3）見不到解理縫的切面（③切面）：切面為近等軸形，顏色基本為綠色或變化不明顯，即無多色性或多色性很不明顯。4.測量角閃石的解理夾角選擇具兩組解理縫最清晰，升降鏡筒解理縫不左右移動的角閃石切面，測定解理夾角步驟如下：（1）旋轉(zhuǎn)載物臺，使一組解理縫平行十字絲縱絲，記錄載物臺刻度盤上的讀數(shù)為a。（2）繼續(xù)旋轉(zhuǎn)載物臺，使另一組解理縫平行十字絲縱絲，記錄載物臺刻度盤上的讀數(shù)為b。載物臺刻度盤上兩次度數(shù)之差（a-b）即為所測定的角閃石解理夾角。注意：一般測量銳角夾角，鈍角夾角與銳角夾角互補。三、思考題1.偏光顯微鏡由哪幾個主要部件組成?有哪些主要附件?與普通顯微鏡有何不同?2.解理完善程度可分幾級?它與裂理如何區(qū)分?3.高級晶族、中級晶族和低級晶族的有色礦物不同切面各自可有幾種顏色?旋轉(zhuǎn)載物臺一周，有多色性的礦物最深顏色、最淺顏色各出現(xiàn)幾次?由最深顏色到最淺顏色載物臺轉(zhuǎn)動多少度?實驗一 偏光顯微鏡使用，礦物的解理和多色性觀察1.測量偏光顯微鏡視域直徑大小晶體光學與造巖礦物2.確定下偏光（PP）方向，并畫圖晶體光學與造巖礦物3.礦物的解理和多色性觀察（1）黑云母晶體光學與造巖礦物（2）普通角閃石晶體光學與造巖礦物

5，礦石鑒定觀察分析用什么顯微鏡

透反射偏光顯微鏡就可以

別聽不懂的忽悠!看晶體判斷晶體,還是要看它的折射性,金相是觀測表面結(jié)構(gòu)的,放大鏡也看不出什么晶體結(jié)構(gòu),所以,偏光顯微鏡才是看晶體的!另外勸不懂的別亂說,顯微鏡一臺好點的也好幾千幾萬塊,誤導(dǎo)別人不好!

6，偏光顯微鏡能觀察的結(jié)晶有哪些

不知道你說的結(jié)晶是什么意思，呵呵 偏光鏡下能看的是透明礦物的晶體呢，只有下偏光的時候偏光鏡子下面能看到均質(zhì)體和非均質(zhì)體的晶體形態(tài)和顏色，但是要是晶體啊。把上偏光打進去后，均質(zhì)體是全消光的，是全黑的，非均質(zhì)體會有干涉色，根據(jù)干涉色的不同可以鑒定出來是哪種礦物呢 呵呵

7，如何利用小刀莫氏硬度計放大鏡鹽酸等和偏光顯微鏡來有效地鑒

搜一下：如何利用小刀，莫氏硬度計，放大鏡，鹽酸等和偏光顯微鏡來有效地鑒定礦物

如何利用小刀，莫氏硬度計，放大鏡，鹽酸等和偏光顯微鏡來有效地鑒定礦物當光照射到物質(zhì)上時，會發(fā)生非彈性散射，在散射光中除有與激發(fā)光波長相同的彈性成分（瑞利散射）外，還有比激發(fā)光波長長的和短的成分，后一現(xiàn)象統(tǒng)稱為拉曼效應(yīng)

8，正交偏光鏡下可觀察和測定透明礦物的哪些光學性質(zhì)

4、解釋：光率體、一軸晶、二軸晶、光軸、常光、非常光、光學主軸、主軸面、光軸面、光軸角、bxo、bxa、雙折射率。5、試從形態(tài)、主軸(主折射率)、光軸、主要切面、光性規(guī)定等，對比一軸晶與二軸晶光率體的特征。6、 繪出下列切面，并標出軸名(主折射率)及雙折射率的相對大小(以正光性為∥ap、⊥ap 的斜交切面、⊥a(1)、⊥a(2)、⊥bxa、∥a、 斜交a7、寫出下列切面的軸性、光性、切面方向和雙折射率大小。nonpne，neno ng8、何謂光性方位？單斜晶系礦物的光性方位有何特點？舉例說明之。

最高干涉色、 最大雙折射率 消光類型及消光角 延性 雙晶

9，礦物顯微鏡一般是偏振光顯微鏡它的原理是什么

偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質(zhì)也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。 1）偏光顯微鏡的特點 將普通光改變?yōu)槠窆膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學等領(lǐng)域，在生物學和植物學也有應(yīng)用。 （2）偏光顯微鏡的基本原理 偏光顯微鏡的原理比較復(fù)雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應(yīng)力物鏡，旋轉(zhuǎn)載物臺。 （3）偏光鏡檢術(shù)的方式 a.正相鏡檢（orthscope）:又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（bertrandlens）,被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。 b.錐光鏡檢（conoscope）：又稱干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時產(chǎn)生的干涉圖樣，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會聚偏振光束照明。 （4）偏光顯微鏡在裝置上的要求 a.光源：最好采用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現(xiàn)象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。 b.目鏡：要帶有十字線的目鏡。 c.聚光鏡：為了取得平行偏光，應(yīng)使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。 d.伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。 （5）偏光鏡檢術(shù)的要求 a.載物臺的中心與光軸同軸。 b.起偏鏡和檢偏鏡應(yīng)處于正交位置。 c.制片不宜過薄。

偏光顯微鏡的基本原理 （一）單折射性與雙折射性：光線通過某一物質(zhì)時，如光的性質(zhì)和進路不因照射方向而改變，這種物質(zhì)在光學上就具有“各向同性”，又稱單折射體，如普通氣體、液體以及非結(jié)晶性固體；若光線通過另一物質(zhì)時，光的速度、折射率、吸收性和光皮的振動性、振幅等因照射方向而有不同，這種物質(zhì)在光學上則具有“各向異性”，又稱雙折射體，如晶體、纖維等。 （二）光的偏振現(xiàn)象：光波根據(jù)振動的特點，可分為自然光與偏光。自然光的振動特點是在垂直光波傳導(dǎo)軸上具有許多振動面，各平面上振動的振幅相同，其頻率也相同；自然光經(jīng)過反射、折射、雙折射及吸收等作用，可以成為只在一個方向上振動的光波，這種光波則稱為“偏光”或“偏振光”。 最簡單的是只在一直線上振動的直線偏振光。當光線進入雙折射體時，則如圖所示，分為a、b兩種直線平面偏振光，兩者的振動方向相互垂直，而速度、折射率和波長等均有所不同。

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